樣品名稱：半導(dǎo)體集成電路（失效分析）

檢測(cè)項(xiàng)目：試驗(yàn)分析

認(rèn)可資質(zhì)：其它

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路失效分析程序和方法 GJB 3233-1998 5.2.6

服務(wù)地點(diǎn)：全國(guó)

適用范圍：電子電氣

標(biāo)簽： 半導(dǎo)體集成電路（失效分析） 試驗(yàn)分析 半導(dǎo)體集成電路失效分析程序和方法 GJB 3233-1998 5.2.6