國(guó)家電子電器產(chǎn)品檢測(cè)中心
劉工
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樣品名稱(chēng)：半導(dǎo)體集成電路（失效分析）
檢測(cè)項(xiàng)目：外部檢查
認(rèn)可資質(zhì)：其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路失效分析程序和方法 GJB 3233-1998 5.1.1
服務(wù)地點(diǎn)：全國(guó)
適用范圍：電子電氣
標(biāo)簽： 半導(dǎo)體集成電路（失效分析） 外部檢查 半導(dǎo)體集成電路失效分析程序和方法 GJB 3233-1998 5.1.1