樣品名稱：電子元器件及設(shè)備（物理性能）

檢測(cè)項(xiàng)目：芯片剪切強(qiáng)度

認(rèn)可資質(zhì)：其它

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：引出端強(qiáng)度（SMD）/剪切應(yīng)力試驗(yàn) AEC-Q200-006:2010

服務(wù)地點(diǎn)：全國(guó)

適用范圍：電子電氣

標(biāo)簽： 電子元器件及設(shè)備（物理性能） 芯片剪切強(qiáng)度 引出端強(qiáng)度（SMD）/剪切應(yīng)力試驗(yàn) AEC-Q200-006:2010