國家電子電器產(chǎn)品檢測中心
劉工
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樣品名稱：通用電子元器件（破壞性物理分析）
檢測項目：掃描電子顯微鏡檢查
認(rèn)可資質(zhì)：其它
檢測標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路失效分析程序和方法 GJB 3233-1998 5.3.4
服務(wù)地點(diǎn)：全國
適用范圍：電子電氣
標(biāo)簽： 通用電子元器件（破壞性物理分析） 掃描電子顯微鏡檢查 半導(dǎo)體集成電路失效分析程序和方法 GJB 3233-1998 5.3.4
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