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劉工
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樣品名稱：通用電子元器件（破壞性物理分析）
檢測項(xiàng)目：X射線檢查
認(rèn)可資質(zhì)：其它
檢測標(biāo)準(zhǔn)：軍用電子元器件破壞性物理分析方法 MIL-STD-1580C-2019 方法16.1.1.4
服務(wù)地點(diǎn)：全國
適用范圍：電子電氣
標(biāo)簽： 通用電子元器件（破壞性物理分析） X射線檢查 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 MIL-STD-1580C-2019 方法16.1.1.4
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