樣品名稱：汽車電子用多芯片組件

檢測(cè)項(xiàng)目：高溫蒸煮/無偏濕熱試驗(yàn)/無偏溫濕度試驗(yàn)

認(rèn)可資質(zhì)：其它

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：基于失效機(jī)理的汽車用多芯片組件(MCM)應(yīng)力試驗(yàn)鑒定 AEC-Q104-Rev-2017 表1 A3

服務(wù)地點(diǎn)：全國(guó)

適用范圍：電子電氣

標(biāo)簽： 汽車電子用多芯片組件 高溫蒸煮/無偏濕熱試驗(yàn)/無偏溫濕度試驗(yàn) 基于失效機(jī)理的汽車用多芯片組件(MCM)應(yīng)力試驗(yàn)鑒定 AEC-Q104-Rev-2017 表1 A3