樣品名稱：集成電路

檢測(cè)項(xiàng)目：外部目檢

認(rèn)可資質(zhì)：其它

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：《半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第3部分:外部目檢》 IEC 60749-3：2002

服務(wù)地點(diǎn)：全國(guó)

適用范圍：電子電氣

標(biāo)簽： 集成電路 外部目檢 《半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第3部分:外部目檢》 IEC 60749-3：2002