樣品名稱：集成電路

檢測(cè)項(xiàng)目：內(nèi)部易燃性

認(rèn)可資質(zhì)：其它

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：《半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第31部分:塑封器件的易燃性內(nèi)部引起的)》 IEC 60749-31：2002

服務(wù)地點(diǎn)：全國(guó)

適用范圍：電子電氣

標(biāo)簽： 集成電路 內(nèi)部易燃性 《半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第31部分:塑封器件的易燃性內(nèi)部引起的)》 IEC 60749-31：2002