樣品名稱：光電子器件

檢測(cè)項(xiàng)目：發(fā)射極-集電極擊穿電壓

認(rèn)可資質(zhì)：其它

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體器件光電子器件分規(guī)范 GB/T 12565-1990 附錄D 表D2 光耦合器

服務(wù)地點(diǎn)：全國

適用范圍：電子電氣

標(biāo)簽： 光電子器件 發(fā)射極-集電極擊穿電壓 半導(dǎo)體器件光電子器件分規(guī)范 GB/T 12565-1990 附錄D 表D2 光耦合器