樣品名稱：電子元器件
檢測(cè)項(xiàng)目：微米級(jí)長(zhǎng)度掃描電鏡測(cè)量
認(rèn)可資質(zhì)：CNAS
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：微米級(jí)長(zhǎng)度的掃描電鏡測(cè)量方法通則GB/T 16594-2008
服務(wù)地點(diǎn)：全國(guó)
適用范圍：電子電氣
標(biāo)簽： 電子元器件 微米級(jí)長(zhǎng)度掃描電鏡測(cè)量 微米級(jí)長(zhǎng)度的掃描電鏡測(cè)量方法通則GB/T 16594-2008