樣品名稱：失效分析

檢測項(xiàng)目：開封

認(rèn)可資質(zhì)：CNAS

檢測標(biāo)準(zhǔn)：微電子器件試驗(yàn)方法和程序GJB 548 B-2005；微電路試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)方法MIL-STD-883H-2010

服務(wù)地點(diǎn)：全國

適用范圍：電子電氣

標(biāo)簽： 失效分析 開封 微電子器件試驗(yàn)方法和程序GJB 548 B-2005；微電路試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)方法MIL-STD-883H-2010