國(guó)家電子電器產(chǎn)品檢測(cè)中心
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樣品名稱：密封半導(dǎo)體集成電路
檢測(cè)項(xiàng)目：X射線檢查
認(rèn)可資質(zhì)：CNAS
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：軍用電子元器件破壞性物理分析方法GJB4027A-2006
服務(wù)地點(diǎn)：全國(guó)
適用范圍：電子電氣
標(biāo)簽： 密封半導(dǎo)體集成電路 X射線檢查 軍用電子元器件破壞性物理分析方法GJB4027A-2006
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