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樣品名稱：電磁干擾（EMI）低通饋通濾波器
檢測項(xiàng)目：密封
認(rèn)可資質(zhì)：CNAS
檢測標(biāo)準(zhǔn)：軍用電子元器件破壞性物理分析方法GJB4027A-2006
服務(wù)地點(diǎn)：全國
適用范圍：電子電氣
標(biāo)簽： 電磁干擾（EMI）低通饋通濾波器 密封 軍用電子元器件破壞性物理分析方法GJB4027A-2006
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