樣品名稱：集成電路

檢測(cè)項(xiàng)目：單片電路試驗(yàn)方法

認(rèn)可資質(zhì)：CNAS

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：《半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第4部分:強(qiáng)加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(yàn)HAST)》 IEC 60749-4：2002

服務(wù)地點(diǎn)：全國(guó)

適用范圍：電子電氣

標(biāo)簽： 集成電路 單片電路試驗(yàn)方法 《半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第4部分:強(qiáng)加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(yàn)HAST)》 IEC 60749-4：2002