樣品名稱：半導(dǎo)體集成電路電壓調(diào)整器

檢測(cè)項(xiàng)目：負(fù)載電流變化瞬態(tài)響應(yīng)時(shí)間和負(fù)載電流變化瞬態(tài)過沖電壓

認(rèn)可資質(zhì)：CNAS

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路 電壓調(diào)整器測(cè)試方法的基本原理 GB/T 4377-1996

服務(wù)地點(diǎn)：全國

適用范圍：電子電氣

標(biāo)簽： 半導(dǎo)體集成電路電壓調(diào)整器 負(fù)載電流變化瞬態(tài)響應(yīng)時(shí)間和負(fù)載電流變化瞬態(tài)過沖電壓 半導(dǎo)體集成電路 電壓調(diào)整器測(cè)試方法的基本原理 GB/T 4377-1996