樣品名稱：半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路

檢測(cè)項(xiàng)目：內(nèi)部目檢

認(rèn)可資質(zhì)：CNAS

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路總規(guī)范GB/T 4589.1-2006 idt IEC 60747-10:1991

服務(wù)地點(diǎn)：全國(guó)

適用范圍：電子電氣

標(biāo)簽： 半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路 內(nèi)部目檢 半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路總規(guī)范GB/T 4589.1-2006 idt IEC 60747-10:1991