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樣品名稱：半導(dǎo)體集成電路
檢測(cè)項(xiàng)目：粒子碰撞噪聲
認(rèn)可資質(zhì)：CNAS
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路總規(guī)范GJB597B-2012
服務(wù)地點(diǎn)：北京市
適用范圍：電子電氣
標(biāo)簽： 半導(dǎo)體集成電路 粒子碰撞噪聲 半導(dǎo)體集成電路總規(guī)范GJB597B-2012
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