樣品名稱：儀器儀表、計(jì)量器具、電工電子產(chǎn)品、電子測(cè)量?jī)x器、軍用裝備設(shè)備（環(huán)境試驗(yàn)）

檢測(cè)項(xiàng)目：密封性

認(rèn)可資質(zhì)：CNAS

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：氦質(zhì)譜真空檢漏方法QJ 3123-2000

服務(wù)地點(diǎn)：北京市

適用范圍：電子電氣

標(biāo)簽： 儀器儀表、計(jì)量器具、電工電子產(chǎn)品、電子測(cè)量?jī)x器、軍用裝備設(shè)備（環(huán)境試驗(yàn)） 密封性 氦質(zhì)譜真空檢漏方法QJ 3123-2000