國家材料分析檢測中心
劉工
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北京市
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樣品名稱：銻化銦單晶片
檢測項目：表面粗糙度
認可資質(zhì)：其它
檢測標準：SJ20640-1997 紅外探測器用銻化銦單晶片規(guī)范
服務(wù)地點：北京市
適用范圍：材料分析
標簽： 銻化銦單晶片 表面粗糙度 SJ20640-1997 紅外探測器用銻化銦單晶片規(guī)范
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