國(guó)家材料分析檢測(cè)中心
劉工
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第三方商業(yè)檢測(cè)機(jī)構(gòu)
北京市
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樣品名稱(chēng)：微電子材料
檢測(cè)項(xiàng)目：硅晶體中間隙氧含量徑向變化
認(rèn)可資質(zhì)：其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：GB/T14144-2009 硅晶體中間隙氧含量徑向變化測(cè)量方法
服務(wù)地點(diǎn)：北京市
適用范圍：材料分析
標(biāo)簽： 微電子材料 硅晶體中間隙氧含量徑向變化 GB/T14144-2009 硅晶體中間隙氧含量徑向變化測(cè)量方法
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