樣品名稱：薄膜

檢測(cè)項(xiàng)目：介質(zhì)損耗因數(shù)和相對(duì)電容率

認(rèn)可資質(zhì)：其它

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：電氣絕緣用薄膜 第2部分：試驗(yàn)方法 GB/T 13542.2-2009 17

服務(wù)地點(diǎn)：北京市

適用范圍：材料分析

標(biāo)簽： 薄膜 介質(zhì)損耗因數(shù)和相對(duì)電容率 電氣絕緣用薄膜 第2部分：試驗(yàn)方法 GB/T 13542.2-2009 17