樣品名稱：X射線計算機體層攝影設(shè)備

檢測項目：試驗方法

認可資質(zhì)：其它

檢測標(biāo)準(zhǔn)：YY/T1766.1-2021 X射線計算機體層攝影設(shè)備圖像質(zhì)量評價方法 第1部分： 調(diào)制傳遞函數(shù)評價

服務(wù)地點：北京市

適用范圍：醫(yī)療器械

標(biāo)簽： X射線計算機體層攝影設(shè)備 試驗方法 YY/T1766.1-2021 X射線計算機體層攝影設(shè)備圖像質(zhì)量評價方法 第1部分： 調(diào)制傳遞函數(shù)評價