樣品名稱：單光子發(fā)射及X射線計算機(jī)斷層成像系統(tǒng)性能和試驗方法

檢測項目：非均勻性

認(rèn)可資質(zhì)：其它

檢測標(biāo)準(zhǔn)：單光子發(fā)射及X射線計算機(jī)斷層成像系統(tǒng)性能和試驗方法 YY/T1408-2016 4.1.4

服務(wù)地點：北京市

適用范圍：醫(yī)療器械

標(biāo)簽： 單光子發(fā)射及X射線計算機(jī)斷層成像系統(tǒng)性能和試驗方法 非均勻性 單光子發(fā)射及X射線計算機(jī)斷層成像系統(tǒng)性能和試驗方法 YY/T1408-2016 4.1.4