AECQ101基于離散半導(dǎo)體組件應(yīng)力測(cè)試認(rèn)證的失效機(jī)理（中文版）（21頁(yè)）

• 資料介紹

  AECQ101基于離散半導(dǎo)體組件應(yīng)力測(cè)試認(rèn)證的失效機(jī)理（21頁(yè)）

  1.范圍 本文件包含了離散半導(dǎo)體組件（如晶體管，二極管等）最低應(yīng)力測(cè)試要求的定義和參考測(cè)試條件.使用本文件并不是要解除供應(yīng)商對(duì)自己內(nèi)部認(rèn)證項(xiàng)目的責(zé)任性，此外此文件并不解除供應(yīng)商滿(mǎn)足本文件范圍外的任何文件需求。其中的使用者被定義為所有按照規(guī)格書(shū)使用其認(rèn)證器件的客戶(hù)，客戶(hù)有責(zé)任去證實(shí)確認(rèn)所有的認(rèn)證數(shù)據(jù)與本文件相一致。

  1.1目的 此規(guī)范的目的是要確定一種器件在應(yīng)用中能夠通過(guò)應(yīng)力測(cè)試以及被認(rèn)為能夠提供某種級(jí)別的品質(zhì)和可靠性。

   

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  720.93KB
• 所屬類(lèi)別：
  法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)
• 更新日期：
  2022-01-18
• 適用行業(yè)：
  電子電氣
• 上傳人：
  linkingx
• 標(biāo) 簽：

  半導(dǎo)體 應(yīng)力測(cè)試

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