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樣品名稱:電子元器件/電工電子產(chǎn)品
檢測項(xiàng)目:掃描聲學(xué)顯微鏡檢查
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測標(biāo)準(zhǔn):軍用電子元器件破壞性物理分析方法 工作項(xiàng)目1103 GJB 4027A-2006
所屬行業(yè)分類:電子電氣
標(biāo)簽: 掃描聲學(xué)顯微鏡檢查 電子元器件/電工電子產(chǎn)品