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中興通訊股份有限公司材料實驗室
廣東省深圳市
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樣品名稱:微電子器件
檢測項目:X射線照相
認可資質:CNAS CMA
檢測標準:微電子器件試驗方法和程序 GJB 548B-2005 微電子器件試驗方法標準 MIL-STD-883H-2010 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB 4027A-2006 電子、電磁和機電元器件破壞性物理分析方法 MIL-STD-1580
所屬行業分類:電子電氣
標簽: X射線照相 微電子器件
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