您當(dāng)前的位置:首頁(yè) > 西安東風(fēng)儀表廠可靠性試驗(yàn)檢測(cè)中心 > 半導(dǎo)體集成電路CMOS電路中輸出高阻態(tài)時(shí)高電平電流檢測(cè)
樣品名稱:半導(dǎo)體集成電路CMOS電路
檢測(cè)項(xiàng)目:輸出高阻態(tài)時(shí)高電平電流
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):微電子器件試驗(yàn)方法和程序GJB548B-2005
所屬行業(yè)分類:電子電氣 > 電子元件檢測(cè) >
標(biāo)簽: 輸出高阻態(tài)時(shí)高電平電流 半導(dǎo)體集成電路CMOS電路