您當(dāng)前的位置:首頁(yè) > 中國(guó)物品編碼中心自動(dòng)識(shí)別技術(shù)檢驗(yàn)實(shí)驗(yàn)室 > 射頻識(shí)別標(biāo)簽芯片中保留區(qū)和保留值的處理檢測(cè)
中國(guó)物品編碼中心自動(dòng)識(shí)別技術(shù)檢驗(yàn)實(shí)驗(yàn)室
北京市
樣品名稱(chēng):射頻識(shí)別標(biāo)簽芯片
檢測(cè)項(xiàng)目:保留區(qū)和保留值的處理
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):ISO/IEC 14443-3:2001/ Amd.3:2006 識(shí)別卡-非接觸集成電路卡-鄰近卡-第3部分:初始化和防碰撞 補(bǔ)充版3:保留區(qū)和保留值的處理
所屬行業(yè)分類(lèi):
標(biāo)簽: 保留區(qū)和保留值的處理 射頻識(shí)別標(biāo)簽芯片