三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x中掃描探測(cè)誤差檢測(cè)

• 樣品名稱：三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x

• 檢測(cè)項(xiàng)目：掃描探測(cè)誤差

• 認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA

• 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范（GPS）坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的驗(yàn)收檢測(cè)和復(fù)檢檢測(cè) 第2部分：用于測(cè)量尺寸的坐標(biāo)測(cè)量機(jī) GB/T 16857.2-2006 第3部分：旋轉(zhuǎn)工作臺(tái)的軸線為第四軸的坐標(biāo)測(cè)量機(jī) GB/T 16857.3-2006 第4部分：在掃描測(cè)量模式下使用的坐標(biāo)測(cè)量機(jī)

• 所屬行業(yè)分類：計(jì)量與測(cè)量 > 精密儀器檢測(cè) >

• 標(biāo)簽： 掃描探測(cè)誤差 三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x