原材料、元器件、零部件、光學(xué)儀器、電子儀器、微光類(lèi)、軍工、民用產(chǎn)品中低 溫試 驗(yàn)檢測(cè)

• 樣品名稱(chēng)：原材料、元器件、零部件、光學(xué)儀器、電子儀器、微光類(lèi)、軍工、民用產(chǎn)品

• 檢測(cè)項(xiàng)目：低 溫試 驗(yàn)

• 認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA

• 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 GJB150.4 A-2009

• 所屬行業(yè)分類(lèi)：電子電氣 > 環(huán)境試驗(yàn) >

• 標(biāo)簽： 低 溫試 驗(yàn) 原材料、元器件、零部件、光學(xué)儀器、電子儀器、微光類(lèi)、軍工、民用產(chǎn)品