半導體集成電路MOS隨機存儲器中截止態漏極漏電流 ID（Off）檢測

• 樣品名稱：半導體集成電路MOS隨機存儲器

• 檢測項目：截止態漏極漏電流 ID（Off）

• 認可資質：CNAS CMA

• 檢測標準：GB/T 17574－1998《半導體集成電路 第 2 部分 數字集成電路》

• 所屬行業分類：

• 標簽： 截止態漏極漏電流 ID（Off） 半導體集成電路MOS隨機存儲器