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湖北航天技術研究院計量測試技術研究所
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樣品名稱:電子元器件試驗
檢測項目:高溫貯存
認可資質:CNAS CMA
檢測標準:微電子器件試驗方法和程序 GJB 548B-2005 方法1008.1穩定性烘焙;半導體分立器件試驗方法 GJB 128A-97方法1031高溫壽命 電子及電氣元件試驗方法 GJB 360B-2009 方法108高溫壽命試驗;
所屬行業分類:電子電氣 > 環境試驗 >
標簽: 高溫貯存 電子元器件試驗
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