您當(dāng)前的位置:首頁 > 上海精密計(jì)量測(cè)試研究所 > 半導(dǎo)體集成電路MOS隨機(jī)存儲(chǔ)器中地址取數(shù)時(shí)間tAA檢測(cè)
樣品名稱:半導(dǎo)體集成電路MOS隨機(jī)存儲(chǔ)器
檢測(cè)項(xiàng)目:地址取數(shù)時(shí)間tAA
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):SJ/T10739-1996 半導(dǎo)體集成電路MOS隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試方法的基本原理
所屬行業(yè)分類:電子電氣 > 電子元件檢測(cè) >