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樣品名稱:半導體集成電路MOS隨機存儲器
檢測項目:輸出高電平電壓VOH
認可資質(zhì):CNAS CMA
檢測標準:SJ/T10739-1996 半導體集成電路MOS隨機存儲器測試方法的基本原理
所屬行業(yè)分類:電子電氣 > 電子元件檢測 >
標簽: 輸出高電平電壓VOH 半導體集成電路MOS隨機存儲器
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