半電波暗室（SAC）和全電波暗室(FAC）中自由空間歸一化場(chǎng)地衰減 （FSNSA）--NSA法檢測(cè)

• 樣品名稱：半電波暗室（SAC）和全電波暗室(FAC）

• 檢測(cè)項(xiàng)目：自由空間歸一化場(chǎng)地衰減 （FSNSA）--NSA法

• 認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA

• 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 6113.104-2008,CISPR 16-1-4:2010,EN 50147-3:2000無(wú)線電騷擾和抗擾度測(cè)量設(shè)備和測(cè)量方法規(guī)范第1-4部分： 無(wú)線電騷擾和抗擾度測(cè)量設(shè)備輔助設(shè)備輻射騷擾.

• 所屬行業(yè)分類：電子電氣

• 標(biāo)簽： 自由空間歸一化場(chǎng)地衰減 （FSNSA）--NSA法 半電波暗室（SAC）和全電波暗室(FAC）