電子元器件及設(shè)備 機(jī)械性能試驗(yàn)中機(jī)械沖擊檢測(cè)

• 樣品名稱：電子元器件及設(shè)備 機(jī)械性能試驗(yàn)

• 檢測(cè)項(xiàng)目：機(jī)械沖擊

• 認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA

• 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：1、GJB 128A-1997 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 2、GJB 548A-1996 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 3、GJB 548B-2005 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 4、GJB 360A-1996 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 5、GJB 3

• 所屬行業(yè)分類：

• 標(biāo)簽： 機(jī)械沖擊 電子元器件及設(shè)備 機(jī)械性能試驗(yàn)