電子元器件及設備 氣候試驗中高溫試驗檢測

• 樣品名稱：電子元器件及設備 氣候試驗

• 檢測項目：高溫試驗

• 認可資質：CNAS CMA

• 檢測標準：1、GJB 128A-1997 半導體分立器件試驗方法 2、GJB 548A-1996 微電子器件試驗方法和程序 3、GJB 548B-2005 微電子器件試驗方法和程序 4、GJB 360A-1996 電子及電氣元件試驗方法 5、GJB 3

• 所屬行業分類：

• 標簽： 高溫試驗 電子元器件及設備 氣候試驗