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中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第十三研究所檢測(cè)中心
河北省石家莊市
樣品名稱：電子元器件及設(shè)備 物理性能試驗(yàn)
檢測(cè)項(xiàng)目：紅外掃描熱像檢測(cè)
認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：1、GJB 128A-1997 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 2、GJB 548A-1996 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 3、GJB 548B-2005 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 4
所屬行業(yè)分類：
標(biāo)簽： 紅外掃描熱像檢測(cè) 電子元器件及設(shè)備 物理性能試驗(yàn)
