半導體集成電路 （運算放大器、電壓比較器）中金屬外殼絕緣檢測

• 樣品名稱：半導體集成電路 （運算放大器、電壓比較器）

• 檢測項目：金屬外殼絕緣

• 認可資質：CNAS CMA

• 檢測標準：1、GB/T 4589.1-2006 半導體器件 第10部分：分立器件和集成電路總規范 2、GB/T 16464-1996 半導體器件 集成電路 第1部分 總則

• 所屬行業分類：

• 標簽： 金屬外殼絕緣 半導體集成電路 （運算放大器、電壓比較器）