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中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第十三研究所檢測(cè)中心
河北省石家莊市
樣品名稱:場(chǎng)效應(yīng)晶體管
檢測(cè)項(xiàng)目:柵-源短路時(shí)的漏極電流IDSS
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):1、GB/T 4586-1994 半導(dǎo)體器件第8部分:場(chǎng)效應(yīng)晶體管 2、GB/T 20516-2006 半導(dǎo)體器件 分立器件 第4部分:微波器件
所屬行業(yè)分類:
標(biāo)簽: 柵-源短路時(shí)的漏極電流IDSS 場(chǎng)效應(yīng)晶體管