電子元器件及設備 物理性能試驗中X射線檢查檢測

• 樣品名稱：電子元器件及設備 物理性能試驗

• 檢測項目：X射線檢查

• 認可資質：CNAS CMA

• 檢測標準：1、GJB 128A-1997 半導體分立器件試驗方法 2、GJB 548A-1996 微電子器件試驗方法和程序 3、GJB 548B-2005 微電子器件試驗方法和程序 4、SJ 20527-1995 微波組件通用規范 5、SJ 20527

• 所屬行業分類：

• 標簽： X射線檢查 電子元器件及設備 物理性能試驗