您當(dāng)前的位置:首頁 > 中國電子科技集團(tuán)公司第十三研究所檢測(cè)中心 > 半導(dǎo)體分立器件失效分析中鍵合強(qiáng)度測(cè)試檢測(cè)
樣品名稱:半導(dǎo)體分立器件失效分析
檢測(cè)項(xiàng)目:鍵合強(qiáng)度測(cè)試
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):GJB 3157-1998 半導(dǎo)體分立器件失效分析方法和程序
所屬行業(yè)分類:
標(biāo)簽: 鍵合強(qiáng)度測(cè)試 半導(dǎo)體分立器件失效分析