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中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第十三研究所檢測(cè)中心
河北省石家莊市
樣品名稱(chēng):半導(dǎo)體分立器件失效分析
檢測(cè)項(xiàng)目:試驗(yàn)分析
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):GJB 3157-1998 半導(dǎo)體分立器件失效分析方法和程序
所屬行業(yè)分類(lèi):
標(biāo)簽: 試驗(yàn)分析 半導(dǎo)體分立器件失效分析