半導(dǎo)體集成電路 （運(yùn)算放大器、電壓比較器）中金屬外殼絕緣檢測(cè)

• 樣品名稱：半導(dǎo)體集成電路 （運(yùn)算放大器、電壓比較器）

• 檢測(cè)項(xiàng)目：金屬外殼絕緣

• 認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA

• 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：1、GB/T 4589.1-2006 半導(dǎo)體器件 第10部分：分立器件和集成電路總規(guī)范 2、GB/T 16464-1996 半導(dǎo)體器件 集成電路 第1部分 總則

• 所屬行業(yè)分類：

• 標(biāo)簽： 金屬外殼絕緣 半導(dǎo)體集成電路 （運(yùn)算放大器、電壓比較器）