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中國電子科技集團公司第十三研究所檢測中心
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樣品名稱:混合集成電路外殼
檢測項目:鍍層厚度
認可資質:CNAS CMA
檢測標準:1、GJB 2440A-2006 混合集成電路外殼總規范 2、SJ 20129-1992 金屬鍍覆層厚度測量方法
所屬行業分類:
標簽: 鍍層厚度 混合集成電路外殼
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