您當(dāng)前的位置：首頁 > 中國科學(xué)院長春光學(xué)精密機械與物理研究所質(zhì)檢中心 > 軍用裝備、光學(xué)儀器中表面疵病和陰影質(zhì)量檢測
樣品名稱：軍用裝備、光學(xué)儀器
檢測項目：表面疵病和陰影質(zhì)量
認可資質(zhì)：CNAS CMA
檢測標(biāo)準(zhǔn)：GJB150.2A-2009《軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法》第2部分低氣壓（高度）試驗、GB/T12085.5-2010《光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法》
所屬行業(yè)分類：計量與測量
標(biāo)簽： 表面疵病和陰影質(zhì)量 軍用裝備、光學(xué)儀器
