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樣品名稱:電子元器件
檢測(cè)項(xiàng)目:柵源漏電流
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體器件測(cè)試方法 MIL-STD-750F:2012 方法3411.1
所屬行業(yè)分類:電子電氣 > 環(huán)境試驗(yàn) >
標(biāo)簽: 柵源漏電流 電子元器件
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