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樣品名稱：
檢測(cè)項(xiàng)目：顯微法量測(cè)鍍層厚度
認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：通過橫截面法顯微檢驗(yàn)法測(cè)試金屬及氧化物厚度標(biāo)準(zhǔn)方法 ASTM B 487-85（R2007）
所屬行業(yè)分類：材料分析
標(biāo)簽： 顯微法量測(cè)鍍層厚度
