您當(dāng)前的位置:首頁 > 連云港市質(zhì)量技術(shù)綜合檢驗(yàn)檢測中心 > 晶體硅中III-V族雜質(zhì)含量檢測
樣品名稱:晶體硅
檢測項(xiàng)目:III-V族雜質(zhì)含量
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測標(biāo)準(zhǔn):《低溫傅立葉變換紅外光譜法測量硅單晶中III、V族雜質(zhì)含量的測試方法》 GB/T 24581-2009
所屬行業(yè)分類:石油化工品
標(biāo)簽: III-V族雜質(zhì)含量 晶體硅