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中國科學院半導體研究所照明檢測中心
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樣品名稱:半導體材料
檢測項目:組份
認可資質:CNAS CMA
檢測標準:高分辨率X射線衍射測量GaAs襯底生長的AlGaAs中Al成分的試驗方法 GB/T 24576-2009
所屬行業分類:
標簽: 組份 半導體材料
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